- SIDSP使测量不受干扰，测值更加精确
- 可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
- FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
- 温度补偿功能避免温度变化引起的错误
- 生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
- 大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
- 读数和统计值能单独调出
- 超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
- 菜单指引操作，25种语言可选
- 带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
- 可下载更新软件
MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂层测厚仪技术参数
主机
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主机型号
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MiniTest720
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MiniTest730
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MiniTest740
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探头类型
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内置
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外置
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内置外置可换
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数据记忆组数
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10
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10
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100
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存储数据量
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最多10,000个
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最多10,000个
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最多100,000个
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统计值
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读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)
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校准程序符合国际标准和规范
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ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准
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校准模式
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出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准，使用者可调节补偿值
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极限值监控
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声、光报警提示超过极限
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测量单位
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μm，mm，cm；mils，inch，thou
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数据接口
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IrDA 1.0(红外接口)
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电源
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2节AA电池
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标准
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DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
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操作温度 /存放温度
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- 10℃~60℃/- 20℃~70℃
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体积
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157mm x 75.5mm x 49mm
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重量
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约175g
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约210g
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约175g(内置)/230g(外置)
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MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂层测厚仪技术参数
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探头特性
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F1.5，N07，FN1.5
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F2
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F5，N2.5，FN5
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F15
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F
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N
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F
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F
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N
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F
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测量范围
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0~1.5mm
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0~0.7mm
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0~2mm
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0~5mm
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0~2.5mm
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0~15mm
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使用范围
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小工件，薄涂层
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粗糙表面
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标准探头，使用广泛
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厚涂层
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测量原理
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磁感应
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电涡流
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磁感应
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磁感应
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电涡流
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磁感应
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信号处理
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探头内部32位信号处理(SIDSP)
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精确度
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±(1μm+0.75%读值)
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±(1.5μm+0.75%读值)
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±(5μm+0.75%读值)
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重复性
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±(0.5μm+0.5%读值)
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±(0.8μm+0.5%读值)
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±(2.5μm+0.5%读值)
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低端分辨率
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0.05μm
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0.1μm
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1μm
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最小曲率半径(凸)
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1.0mm
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1.5mm
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5mm
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最小曲率半径
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(凹，外置探头)
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7.5mm
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10mm
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25mm
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(凹，内置探头)
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30mm
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30mm
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30mm
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最小测量面积
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Ø5mm
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Ø10mm
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Ø25mm
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最小基体厚度
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0.3mm
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40μm
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0.5mm
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0.5mm
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40μm
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1mm
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连续模式下测量速度
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每秒20个读数
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单值模式下最大测量速度
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每分钟70个读数
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