大规模集成芯片车规AEC-Q104认证,车规认证测试机构
大规模集成芯片车规AEC-Q104认证
广州广电计量检测股份有限公司(GRGT)失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
广州广电计量检测股份有限公司(GRGT)始建于1964年,是原信息产业部电子602计量站,经过50余年的发展,现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内领先水平。广电计量的资质能力处于行业领先水平,其中CNAS认可3408项,CMA认可1990项,CATL认可覆盖55个类别;在支撑各区域产业高质量发展过程中,广电计量还获众多荣誉称号。
AEC-Q104
AEC-Q104对大规模集成电路芯片IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验,且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是,第三方难以独立完成AEC-Q104的验证,需要晶圆供应商、封测厂配合完成,这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求,依据标准对客户的IC进行评估,出具合理的认证方案,从而助力IC的可靠性认证。
AECQ104认证测试周期:
3-4个月,提供全面的认证计划、测试、报告等服务。
AECQ100认证测试地点:
广电计量广州总部、广电计量上海试验室。
GRGT芯片测试能力:
芯片可靠性验证 ( RA)
芯片级预处理(PC) & MSL试验 、J-STD-020 & JESD22-A113 ;
高温存储试验(HTSL), JESD22-A103 ;
温度循环试验(TC), JESD22-A104 ;
温湿度试验(TH / THB), JESD22-A101 ;
高加速应力试验(HTST / HAST), JESD22-A110;
高温老化寿命试验(HTOL), JESD22-A108;
芯片静电测试 ( ESD):
人体放电模式测试(HBM), JS001 ;
元器件充放电模式测试(CDM), JS002 ;
闩锁测试(LU), JESD78 ;
芯片IC失效分析 ( FA):
光学检查(VI/OM) ;扫描电镜检查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs);OBIRCH ;
Micro-probe;聚焦离子束微观分析(FIB) ;
弹坑试验(cratering) ;芯片开封(decap) ;
芯片去层(delayer);晶格缺陷试验(化学法);
PN结染色 / 码染色试验;
推拉力测试(WBP/WBS);
红墨水试验;PCBA切片分析(X-section);
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