无接触体电阻率型号测试仪
 
产品介绍
HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流(Eddy Current)测试技术,能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。
无接触式电阻率型号测试仪-产品特点
■ 测试范围广,低阻可测至0.001ohm.cm,甚至0.0007ohm.cm,高阻可测至100ohm.cm
■ 产品体积小,便于移动和携带
■ 采用涡流法测试硅锭、棒、回炉料体电阻率
■ 无接触、无损伤快速测试
■ 测试前无需表面处理
■ 特别对于多晶,能够有效避免晶界对测试的影响
■ 测试范围:0.001-100 ohm.cm (分段测试)
■ 可选加无接触PN型号测试功能
■ 可进行温度和厚度的修正
无接触式电阻率型号测试仪-技术指标
■   硅棒硅块可测量电阻率范围:0.001-100Ohm.cm
■   最小测试厚度:200μm
■   测量时间:2秒/次
■   最小测试面积:30x30 mm2
■   推荐使用温度:20℃
■   湿度:≤80%
■   气压:86-106kPa
■   使用电压:230±10V
■   频率,50±3Hz
■   功率消耗:≤5W
尺寸(LxWxH):280x200x60mm
产品介绍
HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流(Eddy Current)测试技术,能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。
无接触式电阻率型号测试仪-产品特点
■ 测试范围广,低阻可测至0.001ohm.cm,甚至0.0007ohm.cm,高阻可测至100ohm.cm
■ 产品体积小,便于移动和携带
■ 采用涡流法测试硅锭、棒、回炉料体电阻率
■ 无接触、无损伤快速测试
■ 测试前无需表面处理
■ 特别对于多晶,能够有效避免晶界对测试的影响
■ 测试范围:0.001-100 ohm.cm (分段测试)
■ 可选加无接触PN型号测试功能
■ 可进行温度和厚度的修正
无接触式电阻率型号测试仪-技术指标
■   硅棒硅块可测量电阻率范围:0.001-100Ohm.cm
■   最小测试厚度:200μm
■   测量时间:2秒/次
■   最小测试面积:30x30 mm2
■   推荐使用温度:20℃
■   湿度:≤80%
■   气压:86-106kPa
■   使用电压:230±10V
■   频率,50±3Hz
■   功率消耗:≤5W
尺寸(LxWxH):280x200x60mm
发布时间:2024-04-29 09:47:15
联系电话:010-60546837 肖宗镛
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