镀层测厚仪、x荧光光谱测厚仪、标准片

服务区域:全国
镀层测厚仪、x荧光光谱测厚仪、标准片

性能优势:

   下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。

   微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

   高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

   精密微型滑轨:快速精准定位样品。

   EFP先进算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。


发布时间:2018-12-19 15:28:34
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