德国FISCHER X荧光镀层测厚仪遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497国际标准，主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。X荧光镀层测量仪面对复杂的电镀层，如单一镀层，二元合金镀层，三元合金镀层，双镀层，双镀层其中一层为合金镀层这些复杂的电镀层厚度检测，菲希尔测厚仪能够准确快速的检测分析出结果，多项专利技术，在线路板镀金、五金镀镍镀铬镀锌镀银等领域中，占有80%的市场份额。有需要请联系:锦霖公司   

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