STIL光谱共焦位移传感器

光谱共焦位移传感器是基于光谱共焦原理制成的一款高精度位移传感器,最小分辨率可达2nm。采样率达100Hz-30KHz。 常用于测透明物体的厚度,如测薄膜、玻璃、透明胶、透明液体。

STIL厚度测量传感器CLIR-MGIR

STIL厚度测量传感器CLIR-MGIR最小分辨率可达到2nm。采样率达100Hz-30KHz。常用于测透明物体的厚度,如测薄膜、玻璃、透明胶、透明液体。且可测多层厚度用于表面粗糙度分析

鑫创科技|SSS1700|SSS1630升级|24位96K采样率USB音频声卡芯片1

台湾鑫创在2021年鑫创推出一款芯片SSS1700可以替代CM6533/CM6533N/CM6533DH,不管在音质和兼容性方面都优于Cmedia CM6533,且SSS1700外围电路较简单易设计,芯片成本比Cmedia CM6533要低,整体方

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DSOX92004A 示波器21502766

20 GHz 真正模拟带宽,可升级为业界最高带宽: 32 GHz 80 GSa/s 采样率,2 通道;40 GSa/s 采样率,4 通道

PW8001 PW6001功率分析仪

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鼎阳SDS5034X 5054X 5104X级荧光示波器

主要特性 带宽350 MHz, 500 MHz, 1 GHz 实时采样率 5 GSa/s 存储深度 250 Mpts 波形刷新率500,000 wfm/s(Sequence模式) 混合信号测量(MSO) 多点触摸,远程控制

北京研华PCI-1711U单端输入低成本多功能数据采集卡

16通道单端模拟输入 12位A/D转换器,采样率达100kHz 节约型设计,无模拟输出 可编程增益 自动通道/增益扫描 先进先出FIFO内存(102

泰克二手TDS3054B 原装1台4通道荧光数字示波器6771

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