STIL光谱共焦位移传感器CL-MG-ON-DUO由于非常高的测量频率和纳米分辨率，我么的传感器能够测量振动对象。他们的非接触式设计避免了在测试时的干扰，并能测量和分析难以访问的区域。

１、概述 无线电干扰测量系统(EMI干扰场强测试接收机)主要设计用于测量频率范围为150KHz～30MHz的干扰场强或正弦信号场强，还可用来测量上述频段范围内信号源在50Ω负载上的终端电压。

STIL光谱共焦位移传感器CL-MG-ON-DUO由于非常高的测量频率和纳米分辨率，我么的传感器能够测量振动对象。他们的非接触式设计避免了在测试时的干扰，并能测量和分析难以访问的区域。

１、概述 无线电干扰测量系统(EMI干扰场强测试接收机)主要设计用于测量频率范围为150KHz～30MHz的干扰场强或正弦信号场强，还可用来测量上述频段范围内信号源在50Ω负载上的终端电压。